MP-2DT Metalograficzna maszyna do szlifowania próbek podwójna tarcza

1. Przegląd produktów

W procesie przygotowania próbki metalograficznej szlifowanie i polerowanie próbki są niezbędnymi procedurami.Po wypolerowaniu próbki można uzyskać powierzchnię zbliżoną do lustra.Maszyna do szlifowania i polerowania próbek metalograficznych MP-2DT wykorzystuje wysokiej klasy ekran dotykowy, który umożliwia płynną regulację prędkości tarczy szlifierskiej i polerskiej w zakresie 50-1000r/min.Proces szlifowania i polerowania próbki można zakończyć poprzez wymianę metalograficznego papieru ściernego i tkaniny polerskiej., Pokazuje szerszy zakres stosowalności.Powłoka przyjmuje integralny blister, nowatorski wygląd, stabilny obrót, niski poziom hałasu, wygodną obsługę, wysoką wydajność pracy itp. I jest wyposażona w urządzenie chłodzące, które może chłodzić próbkę podczas szlifowania i polerowania, aby zapobiec uszkodzeniom spowodowanym przegrzaniem próbki Mikrostruktura.Nadaje się do laboratorium metalograficznego fabryk, uniwersytetów i instytutów badawczych.Stanowi doskonałe urządzenie do szlifowania i polerowania próbek metalograficznych

2. Główne funkcje i cechy

1. Powłoka wykonana jest z wysokiej klasy ABS, który ma nowatorski wygląd i wysokiej klasy atmosferę.

2. Kran przyjmuje całkowicie miedziany proces chromowania, który ma dobrą odporność na korozję.

3. Dzięki funkcji automatycznego czyszczenia może automatycznie czyścić zbiornik na ścieki, aby utrzymać zbiornik na ścieki w czystości.(Opcjonalny)

4. Silnik bezszczotkowy DC, stabilny obrót, niski poziom hałasu i długa żywotność.(Opcjonalny)

5. Bezstopniowa regulacja prędkości plus ośmiobiegowa stała prędkość, wygodna i szybka w celu zaspokojenia różnych potrzeb.

6. Funkcja odliczania, czas można ustawić dowolnie, a maszyna zatrzyma się, gdy nadejdzie czas.(Opcjonalny)

7. Płytę szlifierską i polerską można obracać zgodnie z ruchem wskazówek zegara lub przeciwnie do ruchu wskazówek zegara, aby spełnić różne potrzeby.

8. Zastosowanie podwójnego dysku i podwójnej kontroli jest bardziej elastyczne, dzięki czemu przygotowanie próbki jest bardziej wydajne.

3. parametry techniczne

4. lista konfiguracji